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FM-Nanoview
Op-AFM
系统简介：
◆ 光学金相显微镜和原子力显微镜一体化设计，功能强大；
◆ 同时具备光学显微镜和原子力显微镜成像功能，两者可同时工作，互不影响；
◆ 同时具备光学二维测量和原子力显微镜三维测量功能；
◆ 激光检测头和样品扫描台集成一体，结构非常稳定，抗干扰性强；
◆ 精密探针定位装置，激光光斑对准调节非常简便；
◆ 单轴驱动样品自动垂直接近探针，使针尖垂直于样品扫描；
◆ 马达控制加压电陶瓷自动探测的智能进针方式，保护探针及样品；
◆ 超高倍光学定位系统，实现探针和样品扫描区域精确定位；
◆ 集成扫描器非线性校正用户编辑器，纳米表征和测量精度优于98%。
◆ 技术参数 Technical Parameters
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工作模式
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接触模式、轻敲模式
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光学目镜
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10X
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选配模式
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摩擦力/侧向力、振幅/相位、磁力/静电力
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照明方式
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LED柯勒照明系统
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力谱曲线
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F-Z力曲线、RMS-Z曲线
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光学调焦
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粗微动手动调焦
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XY扫描范围
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50×50um，可选20×20um，100×100um
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摄像头
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500万像素CMOS传感器
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Z扫描范围
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5um，可选2.5um，10um
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显示屏
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10.1寸平板显示器，带图像测量功能
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扫描分辨率
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横向0.2nm，纵向0.05nm
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扫描速率
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0.6Hz~30Hz
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样品尺寸
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Φ≤68mm，H≤20mm
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扫描角度
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0~360°
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样品台行程
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25×25mm
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运行环境
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Windows XP/7/8/10操作系统
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光学物镜
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5X/10X/20X/50X平场复消色差物镜
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通信接口
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USB2.0/3.0
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