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光学原子力显微系统（光学一体机）

FM-Nanoview Op-AFM

系统简介：

◆ 光学金相显微镜和原子力显微镜一体化设计，功能强大；

◆ 同时具备光学显微镜和原子力显微镜成像功能，两者可同时工作，互不影响；

◆ 同时具备光学二维测量和原子力显微镜三维测量功能；

◆ 激光检测头和样品扫描台集成一体，结构非常稳定，抗干扰性强；
◆ 精密探针定位装置，激光光斑对准调节非常简便；
◆ 单轴驱动样品自动垂直接近探针，使针尖垂直于样品扫描；
◆ 马达控制加压电陶瓷自动探测的智能进针方式，保护探针及样品；

◆ 超高倍光学定位系统，实现探针和样品扫描区域精确定位；
◆ 集成扫描器非线性校正用户编辑器，纳米表征和测量精度优于98%。

◆ 技术参数 Technical Parameters