DXX-MX12R180 半导体检测金相显微镜
浏览次数：14 发布时间：2026-07-2 返回列表
DXX-MX12R180 半导体检测金相显微镜
该款显微镜观测器件表面微观结构、焊盘、凸块、焊线、表面划痕、异物、污染等表观缺陷，广泛适配半导体封装、功率器件、晶圆制程质量检测与科研分析场景。
显微镜光学参数信息：
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目镜 |
高眼点大视野平场目镜PL10X/23mm |
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观察头 |
瞳距调节:50-76mm，分光比100:0或0:100。 |
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物镜 |
无限远长工作距半复消色差金相物镜5X-DIC(明暗场） LMPL5X0.15/WD22mm |
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无限远长工作距半复消色差金相物镜10X-DIC(明暗场） LMPL10X/0.3/WD15mm |
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无限远长工作距半复消色差金相物镜20X-DIC(明暗场） LMPL20X/0.4/WD11mm |
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无限远长工作距半复消色差金相物镜20X-DIC(明暗场） LMPL50X/0.55/WD8.8mm |
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无限远长工作距半复消色金相物镜20X-DIC(明暗场） LMPL100X/0.8/WD3mm |
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转换器 |
5孔内倾式明场转换器 |
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机架 |
透反射射式机架 |
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平台 |
明场、（光源电动控制亮度可调） |
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调焦机构 |
Z轴电动旋钮调节（速度可控制高速、中速1、中速2、低速） |
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平台 |
12寸双层机械移动平台，平台面积 720mm×470mm，反射照明移动范围 ：350mm×300mm ；带离合器手柄，可用于全行程范围内快速移动 ； |
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偏光装置 |
360旋转式检偏镜插板（反射用） |
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摄像系统 |
摄像系统兼容：0.4X/0.5X/0.65X/0.7X/1X摄像，C接口，可调焦 |
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可选配件 |
12寸晶圆台/8寸晶圆台/4寸晶圆台 |
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DIC配件 |
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30°倾斜正像头，无限远铰链三通观察筒，瞳距调节：48mm~75mm，两档分光比双目:三目=100：0、0：100 |
相机参数信息
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输出方式 |
USB 3.0 |
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传感器大小 |
索尼1/8”(5.86x4.46) |
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输出分辨率 |
4880*3720 |
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输出像素 |
USB3.0 2000万 |
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G光灵敏度 |
1 30mv with 1/30s |
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外部接口 |
电脑（选配） |
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支持电脑系统 |
Microsoft® Windows® XP/Vista /7/8/8.1(32 & 64 bit)OSx(Mac OS X)Linux |
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供电方式 |
USB线缆 |
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曝光时间 |
1/30s～1/10000s |
说明：部分参数可根据用户具体需求定制或选配。