ZeeScan 200A三维数字显微镜
浏览次数：883 发布时间：2017-02-20 返回列表
该产品 通过显微镜C-MOUNT 接口，扩展出强大的3D图像平台。ZeeScan 200A 三维数码显微镜兼容通常的工业、材料显微镜和立体显微镜。实现：3D表面分析和测量、物证检验、文字笔迹鉴定、痕迹检测、形貌和粗糙度测量、自动深度叠加、景深扩展、3D自动合成等功能。
一、ZeeScan 200A 三维数码显微镜应用领域
l 激光打标钻孔雕刻;l 故障分析;
l 航空学;l 汽车工业;l 摩擦学;l 金属模具;
l 质检维护;l 金属，油漆和涂料，陶瓷，聚合物;
l 半导体材料;l 宝石学;l 博物馆、考古;l 公安、司法取证;
l 高校、科研机构、鉴定中心;
高分辨率数字图像 ZeeScan光学组件能提供清晰明快的高分辨率数字图像
多种图像功能 自动聚焦 深度测量 Z轴图像序列 景深扩展 三维重建
ZeeScan能完成标准的正置或倒置显微镜的所有材料应用的关键任务
3D表面测量 面形 表面粗糙度 波浪 阶梯高度与复杂、笨重和昂贵的系统相比，ZeeScan是一种快速而廉价的表面形貌测量方法。
三、ZeeScan 200A 三维数码显微镜GetPhase软件
GetPhase 提供图像自动采集，2D/3D 图像分析，文档和报告等工具
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图像获取和处理 |
2D/3D图像显示和分析 |
图像数据输出和报告 |
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自动聚焦和曝光 感兴趣区域 导航 |
明场、暗场、相衬、DIC浏览 文字和图像叠加、图像融合 2D/3D测量 ISO粗糙度标准 梯度测量 |
项目存档 Excel格式3D数据 第三方软件的3D数据 报告编辑 HTML兼容报告 |
强大的图像工具
Ø 图像浏览和显示
Ø 高分辨率Z轴图像序列
Ø 完美的自动图像融合（景深扩展）
Ø 深度测量或3D重建。
Ø 2D测量和图像记录、报告
快速精确的3D表面测量
Ø ZeeScan非常快速和简单实现3D图像获取和测量。
Ø 非接触式光学表面分析具有高度可重复性：
Ø 微米或纳米级3D表面分析
Ø 具有从光滑到粗糙表面的测量能力
Ø ISO粗糙度和阶梯高度测量
Ø 高效的图像获取和处理
四、ZeeScan性能参数
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相机兼容性 |
C接口相机，靶面2/3″或更小 |
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显微镜接口 |
1X C型视频接口 |
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计算机接口 |
USB2.0 |
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电源 |
110/220AC |
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物理尺寸和重量 |
ZeeScan 主体：110(H)80(W)56(D)，470g 控制单元：40(H) 158(W) 150(D)，150g |
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物镜 Mag/NA |
Z轴范围 （um） |
Z轴分辨率 （um） |
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5x/0.10 |
640 |
0.32 |
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10x/0.25 |
160 |
0.08 |
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20x/0.40 |
40 |
0.02 |
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50x/0.80 |
6.4 |
0.003 |
Z轴扫描范围和步长参数
Z轴范围和步长与物镜有关，左侧为标准物镜放大倍数的典型参数（1X视频接口时）
其他放大倍数时，按以下公式计算：
Z轴范围=16mm/(物镜倍数)2
Z轴分辨率=Z轴范围/2000
Z轴步长精度=1%，重复性=0.35%
粗糙度测量参数
共12项分析参数，包括经常使用的Ra (Sa), Rq (Sq), Rz(Sz)参数。符合ISO 4287、25178、DIN4768标准。
测量范围：Ra, Rq: 0.01-500μm，测量精度：≤±10%，重复性：≤6%